光致發(fā)光（熒光）光譜測量系統(tǒng)

光致發(fā)光 (photoluminescence) 即 PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導體材料的發(fā)光特性測量應用中通常是用激光（波長如 325nm、532nm、785nm 等）激發(fā)材料（如 GaN、 ZnO、GaAs 等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即 PL 譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應用。

“卓譜”組合式熒光光譜測量系統(tǒng)OmniFluo

熒光光譜儀在許多領(lǐng)域中被廣泛應用，如：材料學（寬禁帶半導體材料發(fā)光特性檢測）、生物學（葉綠素和類胡蘿卜素檢測）、生物醫(yī)學（惡性病的熒光診斷）和環(huán)境監(jiān)測中都可以用到熒光檢測技術(shù)。

OmniFluo “卓譜”系列熒光光譜測量系統(tǒng)采用模塊化的組合方式集成而成，吸收了我公司 15 年的光譜系統(tǒng)設(shè)計、制造經(jīng)驗，通過不同配件的選擇，不僅可以實現(xiàn)熒光光譜測量，還能夠?qū)崿F(xiàn)功能的多樣化，如 PL、拉曼、透射反射吸收、探測器定標等光譜測量，有效解決了傳統(tǒng)熒光分光光度計光譜范圍有限及拓展功能不足的問題。

OmniFluo “卓譜”系統(tǒng)采用高性能“譜王”Omni-λ系列光譜儀 / 單色儀、高靈敏度單通道或多通道探測器，采用單光子計數(shù)技術(shù)或鎖相放大技術(shù)，大的提高了熒光探測的靈敏度，使得純水拉曼信噪比達到 1000:1 以上的水平。

OmniFluo “卓譜”系統(tǒng)將 PL 和 PLE 兩種熒光測試需求*結(jié)合，采用模塊化設(shè)計，可以根據(jù)需要進行系統(tǒng)架構(gòu)的靈活調(diào)整，實現(xiàn)常溫及低溫下的熒光光譜、激發(fā)光譜測量。

組合式熒光光譜測量系統(tǒng)OmniFluo性能特點

■ 模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計——各功能模塊*結(jié)合，根據(jù)需要進行選擇，后續(xù)升級方便

■ 合理的空間布局——在滿足功能需求的前提下盡可能占用更少的空間，且方便測量操作

■ 超寬光譜范圍*——200nm-2500nm

■ *的發(fā)射光譜校正功能*——讓光譜測量更精準且具有可比性

■ 寬波段、高輸出功率光源——150W、500W氙燈光源可選

■ 多種激光器波長可選*266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm/1064nm等

■ 量子產(chǎn)率測量功能可選**——擴展選項

■ 電致發(fā)光(EL)功能可選**——擴展選項

■ 超低溫測量附件可選**——可提供≤10K的超低溫測量

*需根據(jù)實際需要進行配置確定；

**選配項，請詳細咨詢。

OmniFluo?參數(shù)規(guī)格表 (*)